| | Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отражающем свете и цветной выключателем камеры*. Комплект объективов вы подбираете индивидуально на основе типовых образцов. |
| Узел отрезных (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: | Автоматически сменяемые фильтры Edge***, обеспечение работы в следующих группах: 532 Нм: от 60 см ⁻¹ до 4500 см ⁻¹ 633 Нм: от 60 см ⁻¹ до 4500 см ⁻¹ 785 Нм: от 50 см ⁻¹ до 2900 см ⁻¹ |
| Спектрометр: | Высокоэффективный сканирующий спектрометр с расчетной оптикой в диапазоне: 400-1100 нм.** |
| Дифракционные решетки: | До 4 решеток в походной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. |
| | Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество разрешения: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. |
| Спектральное разрешение: | 1,4 см ⁻¹ (0,7 см ⁻¹ /пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см ⁻¹ с Эшелле-решеткой (для лазера 532 нм). |
| Конфокальный пинхол: | Автоматизированный узел смены конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. |
| Лазеры: | Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. |
| Сканирование образца: | Прецизионный автоматический поворот ХУ (XYZ) с диапазоном перемещаемых 100х75 мм и шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ходовой поворот ХУ (XYZ) с диапазоном перемещаемых 115х75 мм с энкодерами. |
| Автокалибровка и проверка: | Встроенная лампа для аварийного отключения прибора. |
| Стандартная гарантия: | Гарантийный срок 12 месяцев. |